COMPUTER MODELS OF INCANDENSCENT LAMPS

Bulletin of Kyiv Polytechnic Institute. Instrument making series, Dec 2023

The article is devoted to the research of existing and the development of new computer models of the hemispherical and normal spectral coefficient of emission of optical incandescent lamps. Optical lamps (filament electric lamp, FEL) remain a prevalent source of radiation in various optoelectronic systems today. They provide radiation in the ultraviolet, visible, near-infrared (IR-A, NIR), and mid-infrared (IR-B, SWIR) spectral ranges and have typical color temperatures of 2300 K, 2850 K, 3200 K.An analysis of two groups of existing FEL models was carried out.The models of the first group are oriented primarily for existing calibration and certification installations of optoelectronic systems.The models of the second group are more universal and comprehensive.They reproduce the element-by-element structure of the modeled optoelectronic system and use the physical and constructive parameters of significant elements in the modeled system. Planck's formula or Wien's approximation is the basis for all types of temperature source models. Existing models are designed for the visible range and the range of 0.34 μm – 2.6 μm for temperatures of 1600 K – 2800 K, which does not take into account all the capabilities of modern FELs.The aim of the work is to investigate known models and polynomial models for use in calculations of modern optical lamps with temperatures ranging from 2300 K to 3200 K across a wide range of wavelengths, including ultraviolet, IRA, and IR-B.The accuracy of the Larabi and Pon models has been analyzed and their parameters have been modified. The obtained dependencies ensure an increase in accuracy by 1.4 - 4 times.The accuracy and cost-effectiveness of polynomial models of the normal spectral coefficient of radiation in the ultraviolet, visible, IR-A and IR-B spectrum ranges were analyzed. Model coefficients have been calculated based on the criterion of minimizing the root mean square deviation. It has been demonstrated that, according to the criterion of average errors in the range of 0.23 μm - 2.7 μm, all dependencies have errors of less than 5 % throughout the entire range and provide a minimum of 5 correct digits.According to the criterion of maximum errors with a relative error of 5%, linear expressions cannot be applied, and an error of less than 1 % is provided only by cubic polynomials. A combined polynomial model was formed, which provides a methodological error of approximation of less than 1 % in all spectral sub-ranges, and in the visible range of 0.3 μm - 0.94 μm - less than 0.5 %.The time costs of the models are determined and the combined models are formed for use in processing systems with limited computing capabilities.

Article PDF cannot be displayed. You can download it here:

https://visnykpb.kpi.ua/article/download/294937/287774

COMPUTER MODELS OF INCANDENSCENT LAMPS

ISSN (p) 0321-2211, ISSN (e) 2663-3450 Методи і системи оптично-електронної та цифрової обробки сигналів УДК 004.94 621.32 628.9 КОМП’ЮТЕРНІ МОДЕЛІ ЛАМП РОЗЖАРЮВАННЯ Кравченко І. В., Микитенко В. І. Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського», Київ, Україна E-mail: , Статтю присвячено дослідженню існуючих та розробці нових комп’ютерних моделей напівсферичного та нормального спектрального коєфіцієнту випромінення оптичних ламп розжарювання. Оптичні лампи (tungsten halogen quarts filament electric lamp, FEL) сьогодні залишаються розповсюдженим джерелом випромінювання в різноманітних оптико-електронних системах. Вони забезпечують випромінення в ультрафіолетовому, видимому, ближньому ІЧ-А (IR-A, NIR) та середньому ІЧ-В (IR-B, SWIR) інфрачервоному діапазонах спектру та мають типові колірні температури 2300 К, 2850 К, 3200 К. Проведено аналіз двох груп існуючих моделей FEL. Моделі першої групи орієнтовані в першу чергу для існуючих установок калібрування та атестації оптико-електронних систем. Моделі другої групи є більш універсальними та «повними». Вони відтворюють поелементно структуру модельованої оптико-електронної системи та використовують фізичні та конструктивні параметри значущих елементів модельованої системи. Для всіх типів моделей температурних джерел базовими є формула Планка або наближення Віна. Існуючі моделі розроблені для видимого діапазону та діапазону 0.34 мкм – 2.6 мкм для температур 1600 К – 2800 К, що не враховує всі можливості сучасних FEL. Метою роботи є дослідження відомих моделей та поліноміальних моделей для застосування в розрахунках сучасних оптичних ламп з температурами 2300 К – 3200 К в широкому діапазоні довжин хвиль, включно з ультрафіолетовим, IR-A, IR-B. Проаналізовано точність та модифіковано параметри моделей Ларабі та Пона. Отримані залежності забезпечують підвищення точності в 1.4 – 4 рази. Проаналізовано точність та економічність поліноміальних моделей нормального спектрального коєфіцієнту випромінення в ультрафіолетовому, видимому, IR-A та IR-B діапазонах спектру. Розраховані коєфіцієнти моделей за критерієм мінімізації середньоквадратичного відхилення. Показано, що за критерієм середніх похибок в діапазоні 0.23 мкм – 2.7 мкм всі залежності мають похибку менше за 5 % у всьому діапазону та забезпечують мінімум 5 вірних знаків. За критерієм максимальних похибок з відносною похибкою в 5 % не можуть бути застосовані лінійні вирази, а похибку менше 1 % забезпечують тільки кубічні поліноми. Сформовано комбіновану поліноміальну модель, яка забезпечує методичну похибку наближення менше 1 % по всіх спектральних піддіапазонах, а у видимому діапазоні 0.3 мкм – 0.94 мкм – менше 0.5 %. Визначені часові витрати моделей та сформовані комбіновані моделі для застосування в процесорних системах з обмеженими обчислювальними можливостями. Ключові слова: лампа розжарювання; нормальний коєфіцієнт випромінення; напівсферичний коєфіцієнт випромінення; вольфрам; комп’ютерна модель; моделювання; методична похибка; абсолютна похибка; відносна похибка; середньоквадратичне відхилення. Вступ В якості джерел випромінення оптикоелектронних систем, які працюють в широкій смузі довжин хвиль ультрафіолетового, видимого, ближнього інфрачервоного ІЧ-А (IR-A, NIR, Near Infrared) та середнього інфрачервоного ІЧ-В (IRB, SWIR, Short Wave Infrared) спектральних діапазонів, тобто для довжин хвиль від 0.2 мкм до 2.7 мкм, донедавна основним регламентованим джерелом (сьогодні – часто використовуваним) є лампи розжарювання [1, 2]. Математичні моделі таких оптикоелектронних систем можна розділити на дві групи. Моделі першої групи орієнтовані на опис існуючих установок, які призначені, в першу чергу, для калібрування та атестації оптико-електронних систем. Особливістю таких моделей є те, що значна кількість параметрів моделі визначається експериментально, а кількість параметрів зменшена. Моделі другої групи є більш універсальними та «повними». Вони відтворюють поелементно структуру модельованої оптико-електронної системи та використовують фізичні та конструктивні параметри значущих елементів цієї системи. Лампи розжарювання є тепловими джерелами випромінювання, тому для їх моделювання базовою є формула Планка, яка визначає спектральну енергетичну світність випромінення (спектральну густину випромінюваності, spectral radiant exitance, spectral radiant emittance) абсолютно чорного тіла Вісник КПІ. Серія ПРИЛАДОБУДУВАННЯ, Вип. 66(2), 2023. 21 ISSN (p) 0321-2211, ISSN (e) 2663-3450 Методи і системи оптично-електронної та цифрової обробки сигналів (АЧТ) з температурою Т для визначеної довжини хвилі λ: C1 , M (λ, T ) = C2  5  λT λ  e − 1   де C1=2πhc2; C2=hc/k; c – швидкість світла; k – стала Больцмана; h – стала Планка. Первинною моделлю першої групи можна вважати формулу, запропоновану Національним інститутом стандартів і технологій США (NIST, National Institute of Standards and Technology, USA). Модель описує спектральну опроміненість (spectral irradiance) площини аналізу установки [3]: B  E (λ) = f (λ) ⋅ exp  C +  ⋅ λ −5 = λ  B  n   =   Ai ⋅ λi  ⋅ exp  C +  ⋅ λ −5 . λ   i =0  (1) Залежність (1) не містить температури джерела, не описує перетворення енергетичної світності джерела в опроміненість площини аналізу. Замість формули Планка в ній використана частина формули Віна: C1 . M (λ, T ) = C2 5 λT λe У виразі (1) сталі С1, С2 та температура Т визначаються експериментальними коєфіцієнтами С та В, а параметри установки, спектральна характеристика оптичної системи та спектральний коєфіцієнт випромінення джерела (emissivity) описується поліноміальною функцією f(λ). В [4] степінь поліному f(λ) конкретизовано значенням n=5 та вказано, що коєфіцієнти полінома визначаються окремо для двох спектральних діапазонів: 250 нм – 400 нм та 350 нм – 1600 нм. Подальші дослідження були направлені на підвищення економічності моделі спрощенням вихідної залежності (1) або підвищення точності зміною вигляду наближувальної функції. В [5] запропоновано використати для розрахунку променевого потоку (spectral radiant power) функцію f(λ) у вигляді кубічного полінома: A0 + A1λ + A2 λ 2 + A3 λ 3 . B 5 exp   ⋅ λ λ Автори в [6] для розрахунку опроміненості (spectral irradiance) в діапазоні довжин хвиль 400 нм – 900 нм запропонували лінійну функцію f(λ): B  E (λ) = (1 + A1λ) ⋅ exp  A0 +  ⋅ λ −5 . λ  В рамках програми Shuttle Solar Backscatter Ultraviolet Spectrometer для підвищення точності моделі [7] запропоновано замінити поліноміальну наближувальну функцію на експоненційнoΦ(λ) = 22 степеневу в двох спектральних діапазонах, аналогічних діапазонам моделі NIST [2]: A  λ − 450 A4    | . F (λ) = λ −5 ⋅ exp  A0 + 1  ⋅ exp  A2 λ + A3 | λ  500    Спільною особливістю наведених моделей є відсутність температури як параметра та їхня непридатність для прогностичних розрахунків з огляду на те, що параметри Аі, В, які враховують геометричні та спектральні характеристики та перетворення, визначаються експери (...truncated)


This is a preview of a remote PDF: https://visnykpb.kpi.ua/article/download/294937/287774
Article home page: https://visnykpb.kpi.ua/article/view/294937/287774

Ігор Кравченко, Микитенко Володимир. COMPUTER MODELS OF INCANDENSCENT LAMPS, Bulletin of Kyiv Polytechnic Institute. Instrument making series, 2023, pp. 21-29,